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產(chǎn)品分類
原位拉伸冷熱臺(tái)是針對(duì)材料研究過(guò)程中變溫拉伸測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品,可表征材料力學(xué)性能隨溫度變化的特征。
探針冷熱臺(tái)是一款針對(duì)材料研究過(guò)程中變溫電學(xué)測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品,可表征材料升溫和降溫階段,其電學(xué)性能隨溫度變化的特征。
XRD原位冷熱臺(tái)是一款X-射線衍射儀的變溫測(cè)試附件,可實(shí)現(xiàn)樣品變溫測(cè)試的溫度范圍:-190~600°C / RT~1200°C 支持在空氣 / 惰性氣體 / 真空的環(huán)境條件下進(jìn)行測(cè)試。
透明型恒溫?zé)崤_(tái)廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、免疫學(xué)、藥學(xué)和細(xì)胞生殖等醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,配合各種生物顯微鏡,倒置顯微鏡和熒光顯微鏡使用,非常方便,深受科研人員喜愛。
半導(dǎo)體冷熱臺(tái)與各類顯微鏡、光譜儀、掃描電鏡等光學(xué)儀器設(shè)備聯(lián)用,進(jìn)行變溫下的光學(xué)觀察及測(cè)試。 實(shí)現(xiàn)樣品開放式 / 氣密 / 真空環(huán)境下的變溫光學(xué)觀察及測(cè)試。
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